簡(jiǎn)要描述：數(shù)字IC測(cè)試儀：循環(huán)測(cè)試 自動(dòng)搜尋---------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
產(chǎn)品型號(hào)： DL06-GUT-6000B
所屬分類：光電檢測(cè)儀器
更新時(shí)間：2024-05-25
數(shù)字IC測(cè)試儀
型號(hào)：DL06-GUT-6000B
數(shù)字IC測(cè)試儀
產(chǎn)品特點(diǎn)：
循環(huán)測(cè)試
自動(dòng)搜尋
自我診斷
過載保護(hù)
測(cè)量1800種設(shè)備
支持54/74系列TTL
支持4000和5000系列CMOS
測(cè)試管腳：28 pin
產(chǎn)品參數(shù):
測(cè)試范圍 | ||
54/74 系列 TTL | ||
4000 及 4500 系列 CMOS | ||
DRIVE | ||
量測(cè)種類 | ||
約 1800 種 | ||
測(cè)試電壓 | ||
2.5/3.0/3.3/5V DC | ||
測(cè)試時(shí)間 | ||
高測(cè)試速度，平均 0.6 秒可完成一個(gè) IC | ||
使用電源 | ||
交流 100V~240V +10%, 50/60Hz | ||
尺寸及重量 | ||
335(寬) x 105(高) x 300(長) mm | ||
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