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多功能數(shù)字式四探針測(cè)試儀

多功能數(shù)字式四探針測(cè)試儀

簡(jiǎn)要描述:BX-D2258型多功能數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試材料電阻率/方塊電阻的多用途、智能化綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā?、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā返炔⒖济绹?guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。

產(chǎn)品型號(hào): BX-D2258

所屬分類:數(shù)字電阻測(cè)試儀

更新時(shí)間:2024-05-30

詳細(xì)說(shuō)明:

 

 

 

BX-D2258多功能數(shù)字式四探針測(cè)試儀

 

一、結(jié)構(gòu)特征

        

BX-D2258四探針儀器          D2258-F01探頭測(cè)硅片         配D2258-F01測(cè)ITO膜

產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

   BX-D2258型多功能數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試材料電阻率/方塊電阻的多用途、智能化綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā?、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā返炔⒖济绹?guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。

    2.2 儀器成套組成:由BX-D2258四探針主機(jī)、選配的四探針探頭、選配四探針測(cè)試臺(tái)等部分組成。

儀器特點(diǎn)

1:本測(cè)試儀特增設(shè)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)分類功能,最大分類10類。

2:可定制 USB通訊接口,便于其拓展為集成化測(cè)試系統(tǒng)中的測(cè)試模塊。

3:8檔位超寬量程。 同行一般為五到六檔位。

4: 儀器小型化、手動(dòng)/自動(dòng)一體化。

5: 儀器操作簡(jiǎn)便、性能穩(wěn)定,所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤(pán)輸入,簡(jiǎn)便而且免除模擬定位器的不穩(wěn)定。

2.4探頭選配:根據(jù)不同材料特性需要,探頭可有多款選配。詳情見(jiàn)《四探針探頭型號(hào)規(guī)格特征選型參照表》

1配高耐磨的碳化鎢探針探頭,如D2258-F01型,以測(cè)試硅等半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻;

2配不傷膜的球形或平頭鍍金銅合金探針探頭,如D2258-F01型,可測(cè)金屬箔、碳紙等導(dǎo)電薄膜,也可測(cè)陶瓷、玻璃或PE膜等基底上導(dǎo)電涂層膜,如金屬鍍膜、噴涂膜、ITO膜、電容卷積膜等材料的薄膜涂層電阻率/方阻。

3配專用箔上涂層探頭,如D2258-F02型,也可測(cè)試鋰電池電池極片等箔上涂層電阻率/方阻。

4換上四端子測(cè)試夾具,還可對(duì)電阻器的體電阻進(jìn)行測(cè)量。。

2.5測(cè)試臺(tái)選配:根據(jù)不同材料特性需要,測(cè)試臺(tái)可有多款選配。詳情見(jiàn)《四探針測(cè)試臺(tái)型號(hào)規(guī)格特征選型參照表》

四探針?lè)y(cè)試固體或薄膜材料選配SZT-A型或SZT-B型(電動(dòng))或SZT-C型(快速恒壓)或SZT-F型(太陽(yáng)能電池片)測(cè)試臺(tái)。

二探針?lè)y(cè)試細(xì)長(zhǎng)棒類材料選配SZT-K型測(cè)試臺(tái).

平行四刀法測(cè)試橡塑材料選配SZT-G型測(cè)試臺(tái)。

    2.6適用范圍:儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、高等院校四探針?lè)▽?duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測(cè)試。

技術(shù)參數(shù)

測(cè)量范圍

1、電阻率:10-62X105 Ω .cm

2、方塊電阻:10-51X106 Ω /

3、電阻:10-52X106 Ω

2. 材料尺寸(由選配測(cè)試臺(tái)和測(cè)試方式?jīng)Q定)

   徑: SZT-B/C/F方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm,手持方式不限

長(zhǎng)(高)度:  測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm,    手持方式不限.

測(cè)量方位:  軸向、徑向均可

3.3 量程劃分及誤差等級(jí)

滿度顯示

200.0

20.00

2.000

200.0

20.00

2.000

200.0

20.00

測(cè)試電流

0.1μA

1.0μA

10μA

100μA

1.0mA

10mA

100mA

1.0A

常規(guī)量程

kΩ-cm/□

kΩ-cm/□

Ω-cm/□

mΩ-cm/□

基本誤差

±2%FSB

±4LSB

±1.5%FSB

±4LSB

±0.5%FSB±2LSB

±1.0%FSB

±4LSB

注: 電流精度 ±0.1%

3.4 四探針探頭(選配其一或加配全部)

(1)碳化鎢探針:Φ0.5mm,直線探針間距1.0mm,探針壓力: 0~2kg 可調(diào)

(2)薄膜方阻探針:Φ0.7mm,直線或方形探針間距2.0mm,探針壓力: 0~0.6kg 可調(diào)

3.5. 電源

輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗:<20W

3.6.外形尺寸、重量:   機(jī): 220mm(長(zhǎng))×245 mm(寬)×100mm(高),凈重:≤2.5kg

 

 



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