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產(chǎn)品中心

  • BX-H445四通道紫外輻照計(jì) 儀器
    BX-H445四通道紫外輻照計(jì) 儀器

    產(chǎn)品型號

    BX-H445

    廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)廠家

    更新時間

    2024-05-15

    瀏覽次數(shù)

    1271

    產(chǎn)品描述

    四通道紫外輻照計(jì) 儀器型號為臺式機(jī),交流供電。該儀器適用于光化學(xué)、殺菌、光刻、印刷、光固化、高分子材料老化及褪色實(shí)驗(yàn)、探傷、醫(yī)學(xué)診斷及治療、紫外光源植物栽培、水處理、UV防護(hù)和光生物學(xué)等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。
  • BX-H446A單通道紫外照度計(jì)  儀器
    BX-H446A單通道紫外照度計(jì) 儀器

    產(chǎn)品型號

    BX-H446A

    廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)廠家

    更新時間

    2024-05-14

    瀏覽次數(shù)

    1201

    產(chǎn)品描述

    單通道紫外照度計(jì) 儀器采用SMT貼片技術(shù),選用高精度低功耗數(shù)字芯片,儀器外殼為流線型設(shè)計(jì),探測器經(jīng)過嚴(yán)格的光譜及角度特性校正,性能穩(wěn)定,適用性強(qiáng)。適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。
  • BX-G505手提式滑坡遙測系統(tǒng) 儀器
    BX-G505手提式滑坡遙測系統(tǒng) 儀器

    產(chǎn)品型號

    BX-G505

    廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)廠家

    更新時間

    2024-05-14

    瀏覽次數(shù)

    1393

    產(chǎn)品描述

    手提式滑坡遙測系統(tǒng) 儀器適用于尾礦庫的壩體,山體的邊坡,水壩自動監(jiān)測水平位移,孔隙水壓力。系統(tǒng)通過傳感器將監(jiān)測到的滑坡數(shù)據(jù)由發(fā)射器送到互聯(lián)網(wǎng)上,在辦公室通過上網(wǎng)領(lǐng)導(dǎo)部門及各管理層機(jī)構(gòu)都可以隨時查看到滑坡監(jiān)測數(shù)據(jù)及報(bào)表,監(jiān)測曲線等數(shù)據(jù),為管理和決策提供可靠的依據(jù)。
  • BX-G101高精度光譜橢偏儀器
    BX-G101高精度光譜橢偏儀器

    產(chǎn)品型號

    BX-G101

    廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)廠家

    更新時間

    2024-05-14

    瀏覽次數(shù)

    1254

    產(chǎn)品描述

    高精度光譜橢偏儀器針對科研和工業(yè)環(huán)境中薄膜測量推出的高精度快速攝譜型光譜橢偏儀,波長范圍覆蓋紫外、可見到紅外。 ES01光譜橢偏儀基于高靈敏度光譜探測單元和光譜橢偏儀分析軟件,用于測量單層和多層納米薄膜的層構(gòu)參數(shù)(如,厚度)和物理參數(shù)(如,折射率n、消光系數(shù)k,或介電函數(shù)ε1和ε2),也可用于測量塊狀材料的光學(xué)性質(zhì)。
  • BX-H1613多功能氣溶膠動態(tài)暴露實(shí)驗(yàn)系統(tǒng) 儀器
    BX-H1613多功能氣溶膠動態(tài)暴露實(shí)驗(yàn)系統(tǒng) 儀器

    產(chǎn)品型號

    BX-H1613

    廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)廠家

    更新時間

    2024-05-14

    瀏覽次數(shù)

    1215

    產(chǎn)品描述

    多功能氣溶膠動態(tài)暴露實(shí)驗(yàn)系統(tǒng) 儀器 1、用于氣溶膠檢測采集類儀器設(shè)備準(zhǔn)確度、閾值、采樣效率、抗干擾性、環(huán)境適應(yīng)性等實(shí)驗(yàn)與檢測。 2、用于粒子計(jì)數(shù)類儀器設(shè)備計(jì)數(shù)效率、計(jì)數(shù)準(zhǔn)確度評測。 3、用于吸入毒理染毒實(shí)驗(yàn)、PM2.5顆粒物吸入染毒實(shí)驗(yàn)、煤、礦等環(huán)境微顆粒物吸入毒理實(shí)驗(yàn)、其他粉狀顆粒。 4、用于顆粒物流場示蹤、LDA、L2F、流動形象化、吸入測試。 5、用于顆粒粒徑分析、激光折射粒徑譜儀。
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